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现有的ICP仪器,三种检测器比较常见。PMT,CCD(包括SCD),CID;但一般说CID,都说是热电的,有的也说LEEMAN也有,但为什么其它公司没有?是专利保护么?有多少年?还有SCD,这个就PE一家了;我也看到一些资料上说,CID比
2014年07月28日发布人:小红
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各位,PE公司的8000与8300那个好一些,主要区别在哪里!,首先ICP分为扫描型,全谱直读的。
8000是扫描的,水平炬管,需要空压机吹尾焰,不能分析<190nm谱线。
8300是全谱直读的,SCD检测器,谱线不连续,大概有
2015年05月20日发布人:jkh123
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无逸出和每个单元独立读取,高低含量可在一次测定中同时获得。[/color]
5300的SCD分段电荷耦合器件,只6千多个检测单元只能提供235个测量段的信息,谱线信息量仅占6%,对于复杂样品谱线选择性受抑制。
2100用小段
2009年02月02日发布人:神仙姐姐
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,当然只是定性一下,看到一个光斑
用PE,VARIAN都没有这个功能,要定性一个元素的话,必须在定量方法中选中这个元素,通过看峰型的大小来定性的。。。
PE,VARIAN用的是CCD,PE也有SCD
求证一下,是不是这样的
2011年04月21日发布人:MNOD
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(262,144)个检测单元,覆盖167-1050nm波长范围;
SCD(Subsection Charge-Coupled Detector)分段式电荷耦合检测器,面阵检测
2015年04月17日发布人:utt0989
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光电二极管阵列(PDA) ,电荷耦合器件(CCD),分段耦合器件(SCD),电荷注入检测器(CID)
还是其它检测器?,现在是CCD。最早的有光电倍增管。,偶的是ICP-MS,不过目前还没有到货,技术协议商谈中,嘿嘿。炫耀一下。,我的
2010年05月08日发布人:tiger-icp
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ICP的光学分辨率是如何体现出来的?,较好的检出限,,元素的相互干扰情况。,这个可以体现出来吗?如何解释?,这个可以有,一般半峰宽,测几个稀土元素,把图谱都拿过来一对比,就知道光学分辨率是什么体现的了。,稀土的干扰多,谱线分离起来困难,这个和检测器有关系,比如现在的CDD和原来的SCD检测器,不知道自己记错了没,现在基本都是CDD和CID
2016年04月10日发布人:longquan
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],[size=2]SCD、PFPD?[/size],[quote]原帖由 [i]微笑的海豚[/i] 于 2015-4-25 10:34 发表 [url=http://bbs.antpedia.com/redirect.php?goto
2015年04月25日发布人:微笑的海豚
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多道型已几乎退出历史舞台,单道扫描型以其合适的价格和灵活方便仍占有一定的市场份额。全谱直读型仪器代表了当今ICP的最新技术水准,它以CID或CCD(SCD)半导体器件为检测器;中阶梯光栅结合棱镜(或平面光栅)构成二维、高分辩率、高能量色散系统,能同时获得各元素谱线
2009年01月31日发布人:Neo
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转载
安捷伦7890A,配置TCD与SCD两种检测器,前天测量时,SCD对气体时间的保留时间突然滞后了0.4分钟左右,以前一直没有出现过这种情况,而且确定方法没有改变,测量气体没有变化。
色谱只用了一年时间左右,求助老师们能帮忙解决
2013年07月24日发布人:哦买噶